Sanchez Ortiz, Yarnher Enrique, and Jheimer Julian Sepulveda Lopez. “Un Acercamiento a Los Modelos Y Plataformas De Vigilancia Tecnológica”. Documentos De Trabajo ECBTI, vol. 2, no. 2, Dec. 2021, https://doi.org/10.22490/ECBTI.4970.